光學型：
投影儀測長儀：通過將被測物體的影像投射到測量屏幕上，并利用測量屏幕上的刻度尺或標尺進行測量。投影儀測長儀通常包括光源、物鏡、透鏡、刻度尺和測量屏幕等組件。光源發出光線，經過物鏡和透鏡聚焦后，形成被測物體的影像投射到測量屏幕上。利用刻度尺或標尺上的刻度，可以測量被測物體的長度或距離。
顯微鏡測長儀：通過顯微鏡的放大功能進行測量。它通常由顯微鏡、物鏡、目鏡、刻度尺和測量臺等組件組成。被測物體放置在測量臺上，通過顯微鏡觀察被測物體，并利用刻度尺或標尺上的刻度進行測量。顯微鏡測長儀的測量精度通常較高，適用于對微小物體進行測量。
激光型：
時間測量：激光測長儀通過測量激光束從發射到接收所需的時間來計算距離。它通常包括激光發射器、激光接收器和計時器等組件。激光發射器發射激光束，經過被測物體反射后被激光接收器接收。計時器測量激光束從發射到接收所需的時間，通過速度和時間的關系計算出距離。
干涉測量：激光型新天測長儀JD25-C通過測量激光束的干涉來計算距離。它通常包括激光發射器、激光接收器、干涉儀和探測器等組件。激光發射器發射激光束，經過被測物體反射后與參考光束干涉。干涉儀檢測干涉信號，并通過信號處理計算出距離。干涉測量利用了光的波動特性，當光線經過兩條光路再次相遇時，如果兩條光路長度相差一個波長的整數倍，就會出現干涉現象。通過測量干涉條紋的間距，可以推導出物體的長度。
